Продолжение вебинара AlphaCHIP. В этот раз разговор пойдет про методы повышения надежности цифровых микросхем к одиночным воздействиям. Будут представлены программные разработки компании для оценки и повышения надежности цифровых микросхем на логическом уровне.

По итогам вебинара участники смогут получить лицензии САПР Nadezhda для опытной эксплуатации.

План вебинара:

1. Методы повышения сбоеустойчивости комбинационных схем. Механизмы логического, временного и электрического маскирования.
2. Традиционные методы повышения сбоеустойчивости комбинационных схем. Тройное модульное резервирование.
3. Демонстрация продукта Nadezhda для повышения сбоеустойчивости для различных тестовых схем.
4. Ответы на вопросы

Докладчики:

Дмитрий Владимирович Тельпухов

Роман Александрович Соловьев

Владислав Вадимович Надоленко

Публикации по теме:

• Stempkovskiy, A., Telpukhov, D., Nadolenko, V. Accurate Soft Error Rate Reduction using Modified Resolution Method // 2019 IEEE East-West Design and Test Symposium, EWDTS 2019
• Stempkovskiy, A., Telpukhov, D., Solovyev, R.A., Nadolenko, V. Increasing the Accuracy of Reliability-aware Resynthesis with Standard Cell Reliability Characterization // Proceedings of the 2021 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2021, p. 2035–2039,
• Stempkovsky, A., Telpukhov, D.V., Solovyev, R.A., Rukhlov, V.S., Mikhmel, A.S. Hardware and Software Solutions to Increase the Reliability of Combinational Logic in the FPGA Basis // Proceedings of the 2020 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, EIConRus 2020, 2020, p. 1860–1863