Семинар будет интересен разработчикам электроники, инженерам-тестировщикам, конструкторам, руководителям подразделений разработки и производства.
Миниатюрность цифровых изделий, использование корпусов BGA, PoP, применение «Систем в Корпусе» критически усложняет тестирование и поиск дефектов на собранных платах. Единственным вариантом структурного тестирования таких плат остается на сегодня периферийное сканирование.
Периферийное сканирование, как технология, должно внедряться с самого начала разработки цифрового изделия. На Семинаре будет рассказано о JTAG-тестировании на всех этапах жизненного цикла разрабатываемого продукта.
Программа семинара:
• Принцип работы периферийного сканирования
• Определение тестопригодности изделия на самых ранних этапах разработки и для уже производимых изделий.
• Использование периферийного сканирования в разработке и на производстве, а также комбинация с другими тестовыми методами.
Выступает Алексей Иванов, руководитель российского подразделения JTAGTechnologies.
Как добраться в Технопарк Сколково:
Рекомендация: простой и эффективный способ — от станции м. Белорусская линия метро D1 (25-30 мин) или экспресс-поезд от платформы №3 (19 мин), до остановки "Инновационный Центр / Сколково", пешком 300 метров до входа в бизнес-центр Амальтея и далее в Технопарк.
Схемы проезда на личном и общественном транспорте